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陈然
作品数:
1
被引量:1
H指数:1
供职机构:
天津理工大学电子信息工程学院
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发文基金:
天津市科技计划
天津市高等学校科技发展基金计划项目
教育部“新世纪优秀人才支持计划”
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
邵兴隆
天津理工大学电子信息工程学院
陈长军
天津理工大学电子信息工程学院
蒋浩
天津理工大学电子信息工程学院
吕联荣
天津理工大学电子信息工程学院
赵金石
天津理工大学电子信息工程学院
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机构
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天津理工大学
作者
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王建云
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周立伟
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陈然
1篇
陈长军
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邵兴隆
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物理学报
年份
1篇
2014
共
1
条 记 录,以下是 1-1
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基于Cu/SiO_x/Al结构的阻变存储器多值特性及机理的研究
被引量:1
2014年
采用氧化硅材料构建了Cu/SiOx/Al的三明治结构阻变存储器件.用半导体参数分析仪对其阻变特性进行测量,结果表明其具有明显的阻变特性,并且通过调节限制电流,得到了四个稳定的阻态,各相邻阻态的电阻比大于10,并且具有良好的数据保持能力.在不同温度条件下对各个阻态进行电学测试及拟合,明确了不同阻态的电子传输机理不尽相同:阻态1和阻态2为欧姆传导机制,阻态3为P-F(Pool-Frenkel)发射机制,阻态4为肖特基发射机制.根据电子传输机制,建立了铜细丝导电模型并对Cu/SiOx/Al阻变存储器件各个阻态的电致阻变机制进行解释.
陈然
周立伟
王建云
陈长军
邵兴隆
蒋浩
张楷亮
吕联荣
赵金石
关键词:
SIOX薄膜
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