杨勇
- 作品数：5 被引量：9H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 发文基金：模拟集成电路重点实验室基金更多>>
- 相关领域：文化科学自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 半导体器件贮存可靠性快速评价方法被引量：4
- 2015年
- 为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。
- 罗俊代天君刘华辉杨勇张振宇杨少华
- 关键词：半导体器件加速寿命试验
- 一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法
- 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架...
- 蔡建荣邱忠文秦国林罗俊吴兆希李晓红谭骁洪杨勇杨迁朱朝轩
- 文献传递
- MOS管毫欧级导通电阻测试方法被引量：4
- 2019年
- 本文通过介绍MOS管导通电阻测试的原理,分析了常用方法造成毫欧级导通电阻测试结果不准确的因素,详细介绍了导通电阻测试的两种改进方法-间接测试法和直接测试法,同时给出了两种方法的测试原理,并通过实际的测试结果,证明了这两种改进方法能够切实满足测试需求,对解决类似的MOS管导通电阻测试问题有较为实用的意义。
- 秦国林许娟蔡建荣杨勇刘星宇
- 关键词：导通电阻
- 一种键合金丝可靠性评价方法
- 本发明公开一种键合金丝可靠性评价方法，4组样品，其中1组做键合强度试验，其余3组先温度循环加速寿命试验，再进行键合强度试验，得出3组器件的敏感参数，每组敏感参数均利用退化轨迹模型进行拟合，得出每组器件的退化轨迹模型，然后...
- 谭骁洪秦国林李晓红罗俊陈湘渝燕子鹏杨迁杨勇邢宗锋吴兆希林震朱朝轩
- 文献传递
- 浅析集成电路的静电保护被引量：1
- 2020年
- 随着科技的发展,人们对电子产品需求日渐增加,对集成电路的要求也随之增加,静电防护是集成电路设计、封装、运输和组装中十分重要的一部分工作。本文从静电产生的原因、静电的危害以及静电放电模型出发进行分析,最后给出了在生产中静电防护的一些建议,供相关人员进行参考使用。
- 杨勇蔡建荣
- 关键词：静电保护静电防护集成电路电子产品静电放电模型
