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张捷钰

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国地质大学数学与物理学院更多>>
发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
相关领域：一般工业技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇热释电
  • 1篇助烧剂
  • 1篇厚膜
  • 1篇PBO
  • 1篇PZT厚膜
  • 1篇ZR

机构

  • 1篇华中科技大学
  • 1篇中国地质大学

作者

  • 1篇张光祖
  • 1篇罗中杰
  • 1篇姚飞
  • 1篇苏小义
  • 1篇张捷钰

传媒

  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
PbO和Bi_2O_3-Li_2CO_3助烧剂对Pb(Zr_(0.9)Ti_(0.1))O_3厚膜热释电性能的影响
2013年
采用丝网印刷工艺制备了Pb(Zr0.9T0.1)O3(PZT)厚膜,研究了过量PbO和Bi2O3-Li2CO3共同助烧对PZT厚膜低温烧结特性、微观结构、相构成以及介电和热释电性能的影响。结果表明:随着过量PbO及Bi2O3-Li2CO3添加量的增加,PZT厚膜的烧结温度和晶粒尺寸均逐渐降低。当PbO过量6.4%(质量分数)、Bi2O3-Li2CO3添加量为5.4%(质量分数)时,PZT厚膜可在900℃低温下致密成瓷,且其热释电系数和探测率优值均得到大幅提高;所得样品在30℃时的热释电系数为10.6×10–8C.cm–2.K–1,探测率优值为8.2×10–5Pa–1/2。
罗中杰苏小义张捷钰姚飞张光祖
关键词：PZT厚膜助烧剂
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