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杨华
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3.3-27.8 KeVX射线能区Cu的光电截面测量
1990年
用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特性X射线作为光源,用Si(Li)谱仪测量X射线谱,用穿透法测量Cu的质量衰减系数或总的衰减截面。上述光源的特点是:(1)信噪比好,比放射性同位素X光源或光机—二次靶组合光源的信噪比好1—2量级。(2)不象放射性同位素光源那样受限制,只要选择合适的元素作靶,就可得到一系列能量合适的X光源供实验使用。
王大椿
杨华
汪新福
周宏余
关键词:
穿透法
CU
线谱
用高能质子激发的特征X射线测量元素的衰减截面
质子激发单元素靶或化合物靶产生的特征 X 射线,可作为 X 光源用于元素的质量衰减截面和光电截面测量,其突出的优点是: 1、信噪比好。比放射性同位素 X 光源或 X 光机——二次靶组合光源的信噪比好1~2个量级。 2、具...
王大椿
丁训良
杨华
汪新福
周宏余
朱光华
罗平安
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