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生晓坤

作品数：6 被引量：28H指数：3
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

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共 10 条 记 录，以下是 1-10
李杰
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试仪 主控制器 动力电池组 自动测试设备 ATE
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
冯建科
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：FPGA 集成电路测试仪 测试系统 FPGA测试 VXI总线
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
高剑
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：并行测试 测试向量 自动测试系统 存储器测试 串行接口
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
郭士瑞
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试系统 并行测试 自动测试设备 在线编程 FPGA器件
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张东
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：芯片测试 RFID VERILOG 边界扫描测试技术 混合信号集成电路
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
李瑞麟
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：测试设备 测试向量 并行测试技术 并行测试 编程开发
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
姜岩峰
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：各向异性腐蚀 硅 集成电路 JTAG MEMS
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张东
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试 集成电路 测试向量 测试系统 动力电池组
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
于明
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：测试向量 自动测试设备 动力电池组 串行接口 管脚
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
宋泽明
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：IC测试 ATE ARM_CORTEX-M3 ARM CORTEX-M3
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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