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杨勇

作品数:5 被引量:9H指数:2
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
发文基金:模拟集成电路重点实验室基金更多>>
相关领域:文化科学自动化与计算机技术电子电信更多>>

领域

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  • 2个化学工程
  • 2个机械工程
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  • 1个建筑科学
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  • 1个核科学技术

主题

  • 8个加速寿命试验
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  • 7个芯片
  • 7个模型参数
  • 7个可靠性
  • 7个半导体器件
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  • 5个电子产品
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  • 5个引出线
  • 5个应力条件
  • 5个腔体
  • 5个加速退化试验
  • 4个电子产品可靠...
  • 4个元器件
  • 3个电流
  • 3个电路板
  • 3个电路可靠性

机构

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  • 1个电子科技大学
  • 1个西安电子科技...
  • 1个信息产业部电...
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  • 1个电子工业部
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  • 1个中国电子科技...
  • 1个中华人民共和...

资助

  • 6个模拟集成电路...
  • 2个国家自然科学...
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  • 2个模拟集成电路...
  • 1个广东省自然科...
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  • 1个广州市科技计...
  • 1个江苏省“六大...
  • 1个广东省科技计...
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  • 1个重庆市自然科...

传媒

  • 10个微电子学
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  • 1个机车电传动
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  • 1个强激光与粒子...
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  • 1个低温工程
  • 1个应用光学

地区

  • 9个重庆市
  • 1个广东省
10 条 记 录,以下是 1-10
罗俊
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:可靠性 电磁性能 半导体器件 模拟集成电路 显微结构
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
蔡建荣
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:动态参数 集成电路 内壁 裸芯片 芯片检测
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
秦国林
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:可靠性 集成电路 模拟集成电路 元器件 失效模式
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
李晓红
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:环境试验 电子产品可靠性 电路 失效模式 腔体
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
刘华辉
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:半导体器件 分布参数 模型参数 温湿度 加速寿命试验
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
杨少华
供职机构:工业和信息化部电子第五研究所
研究主题:斯特林制冷机 可靠性 寿命评价 红外焦平面 污染
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
邱忠文
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:盖板 电路 可靠性 管壳 集成电路
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
邢宗锋
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:可靠性 环境试验 电子产品可靠性 电路 腔体
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
代天君
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:半导体器件 不连续导电模式 倍压整流电路 倍压整流 连续导电模式
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张振宇
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所
研究主题:半导体 终端 深槽 绝缘层 介质耐压
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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